360水滴摄像头大学情侣,暖暖国语高清免费观看韩剧网,林心如三港版免费观看

一．仪器特点

该仪器利用美国进口的先进高精度激光源进行设计，利用激光干涉方法对 WAFER 的平整度进行测量。该机器可广泛适用于对如下材料的晶片平整度测量：碳化硅、砷化镓、氮化镓、钽酸锂/铌酸锂、蓝玻璃、硅、锗、蓝宝石、陶瓷、石英、手机面板玻璃等，材料可以是透明体或不透明体。

本机可以测量的重要参数包括：TTV、TIR、WARP、BOW、LFPD、TAPER、LTIR、LTV、PLTV、PLTIR、PLFPD、LTV(AVG)等共 12 个。

二、仪器性能及技术参数：。

2.1 适用范围

可用于测量工件尺寸为 Φ2---Φ8（INCH）直径的圆型晶片（方形晶片测量可以定制）